INFORMATION PROCESSING DEVICE, LEARNING DEVICE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

To reduce man-hours for the validation of sample analysis.SOLUTION: A control device 20 of the present invention includes: a calculation unit 51 for calculating Talbot orientation information 43 based on a Talbot image 42 of a sample; a structural analysis unit 52 for performing structural analysis...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: EGUCHI YOSHIHIKO, OTA IKUMA
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To reduce man-hours for the validation of sample analysis.SOLUTION: A control device 20 of the present invention includes: a calculation unit 51 for calculating Talbot orientation information 43 based on a Talbot image 42 of a sample; a structural analysis unit 52 for performing structural analysis of a sample based on the calculated Talbot orientation information 43; and an output unit 28 for outputting a result of the structural analysis. The control device 20 further includes a learning device 53 for performing a part of structural analysis processing by machine learning. The learning device 53 includes: a first learning unit 53a learned in association with sample manufacturing information 41 and the Talbot image 42; and a second learning unit 53b learned in association with the sample manufacturing information 41 and the Talbot orientation information 43.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】サンプルの解析のバリデーション工数を削減する。【解決手段】本発明の制御装置20は、サンプルのタルボ画像42に基づいてタルボ配向情報43を算出する算出部51と、算出したタルボ配向情報43に基づいてサンプルの構造解析をする構造解析部52と、構造解析の結果を出力する出力部28とを備えている。また、制御装置20は、構造解析の処理の一部を機械学習で行うための学習装置53を備えている。学習装置53は、サンプル製造情報41およびタルボ画像42を関連付けた学習された第1学習部53aと、サンプル製造情報41およびタルボ配向情報43を関連付けた学習された第2学習部53bとを備えている。【選択図】図1