HIGH POWER MMIC DEVICES HAVING BYPASSED GATE TRANSISTORS

To provide a monolithic microwave integrated circuits that include a substrate having a high power high frequency transistor having a unit cell-based structure and at least one additional circuit.SOLUTION: A transistor 300 includes a drain contact 336 extending in a first direction, a source contact...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: KHALED FAYED, SIMON M WOOD, DONALD FARRELL, MITCHELL FLOWERS, JAMES MILLIGAN
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a monolithic microwave integrated circuits that include a substrate having a high power high frequency transistor having a unit cell-based structure and at least one additional circuit.SOLUTION: A transistor 300 includes a drain contact 336 extending in a first direction, a source contact 362 extending in the first direction in parallel to the drain contact 336, a gate finger 316 extending in the first direction between the source contact 362 and the drain contact 336, and a gate jumper 372 extending in the first direction. The transistor includes a plurality of loss property elements 380 electrically connected to the gate finger 316 and disposed at intervals. At least one of the loss property elements 380 is positioned between a first end and a second end of the gate finger 316 when the transistor is viewed from above.SELECTED DRAWING: Figure 8 【課題】単位セル・ベースの構造を有する高電力高周波トランジスタ及び少なくとも1つの追加回路を具備する基板を備えるモノリシック・マイクロ波集積回路を提供する。【解決手段】トランジスタ300は、第1の方向に延在するドレイン接点336と、ドレイン接点336と並列に第1の方向に延在するソース接点362と、ソース接点362及びドレイン接点336の間で第1の方向に延在するゲート・フィンガ316と、第1の方向に延在するゲート・ジャンパ372と、を備える。ゲート・フィンガ316に電気的に接続され、間隔を空けて配置された複数の損失性要素380を備え、損失性要素380のうちの少なくとも1つは、トランジスタを上から見たときに、ゲート・フィンガ316の第1の端部と第2の端部との間にある。【選択図】図8