SURFACE ROUGHNESS ANALYSIS SYSTEM AND METHODS OF ANALYZING SURFACE ROUGHNESS OF WORKPIECE

To provide a surface roughness analysis system and methods of analyzing surface roughness of a workpiece.SOLUTION: The surface roughness analysis system comprises a number of wave generators, a number of wave sensors, and an ultrasonic analysis system. The ultrasonic analysis system is configured to...

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Hauptverfasser: GARY E GEORGESON, ASHOKKUMAR DESAI, IHN JEONG-BEOM, SHAHROOZ M JAHANBIN
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a surface roughness analysis system and methods of analyzing surface roughness of a workpiece.SOLUTION: The surface roughness analysis system comprises a number of wave generators, a number of wave sensors, and an ultrasonic analysis system. The ultrasonic analysis system is configured to receive material mechanical parameters for a workpiece, determine incident surface wave signal parameters for a source signal to be sent by the number of wave generators, and determine a cut-off wavelength using the material mechanical parameters, where the cut-off wavelength is a ratio of a surface wavelength to an incident wavelength.SELECTED DRAWING: None 【課題】表面粗さ分析システム、及びワークピースの表面粗さを分析する方法が提供する。【解決手段】表面粗さ分析システムは、幾つかの波発生器、幾つかの波発生器、及び超音波分析システムを備えている。超音波分析システムは、ワークピースのための材料機械パラメータを受信し、幾つかの波発生器によって送信されるソース信号のための入射表面波信号パラメータを決定し、材料機械パラメータを用いて遮断波長を決定するように構成されており、遮断波長は、入射波長に対する表面波長の比率である。【選択図】なし