INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST CIRCUIT, METHOD FOR OPERATING INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST CIRCUIT, MULTI-CORE PROCESSOR DEVICE, AND METHOD FOR OPERATING MULTI-CORE PROCESSOR DEVICE

To provide an integrated circuit with a self-test circuit.SOLUTION: An integrated circuit includes a logic circuit 106, an input side storage element 102_1 for storing operation data, an output side storage element 102_2, an input side test storage element 202_1 for storing test data, and an output side test storage element 202_2, where the logic circuit is selectively connected to the input side storage element on an input side receives the operation data, or is connected to the input side test storage element on the input side to receive test data. The logic circuit is further connected to the output side storage element and the output side test storage element on the output side. Then, the logic circuit supplies data to the output side storage element and/or to the output side test storage element. The output side storage element is set so as to process the data from the logic circuit if the operation data are supplied to the logic circuit, and not to process the data from the logic circuit if the test data are supplied to the logic circuit.SELECTED DRAWING: Figure 3A 【課題】自己テスト回路を備える集積回路を提供する。【解決手段】論理回路１０６と、動作データを記憶する入力側記憶要素１０２＿１と、出力側記憶要素１０２＿２と、テストデータを記憶する入力側テスト記憶要素２０２＿１と、出力側テスト記憶要素２０２＿２と、を有しており、論理回路は選択的に入力側で入力側記憶要素に接続されており、動作データを受信し、または入力側で入力側テスト記憶要素に接続されており、テストデータを受信する。、論理回路は、さらに、出力側で出力側記憶要素および出力側テスト記憶要素に接続されており、したがって、論理回路は出力側記憶要素および／または出力側テスト記憶要素にデータを供給し、出力側記憶要素は、論理回路に動作データが供給されると論理回路からのデータを処理し、論理回路にテストデータが供給されると論理回路からのデータを処理しないように設定されている。【選択図】図３Ａ