OPTICAL INTERFERENCE TOMOGRAPHIC APPARATUS
To provide an optical interference tomographic apparatus capable of acquiring an envelope curve of an interferogram signal of an interference light with high accuracy.SOLUTION: An optical interference tomographic device 100 comprises: a light source 10; a mirror device 20 that contains a reciprocati...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide an optical interference tomographic apparatus capable of acquiring an envelope curve of an interferogram signal of an interference light with high accuracy.SOLUTION: An optical interference tomographic device 100 comprises: a light source 10; a mirror device 20 that contains a reciprocating movable mirror 21; a support part 30 that supports a subject S; a beam splitter 40 that generates an interference light L10; an optical sensor 50 that detects the interference light L10; and a control part 60. Each of a plurality of pixels 51 contained in the optical sensor 50, includes a light reception part, a plurality of transfer gates, and an exhaust gate. The control part 60 applies an electric signal to the optical sensor 50 so that the plurality of transfer gates sequentially becomes a load transfer state in at least three time ranges separated from each other in each period of the interferogram signal of the interference light L10, and the exhaust gate becomes a load exhaust state in a time range other than at least three time ranges.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】干渉光のインターフェログラム信号の包絡線を精度良く取得することができる光干渉断層撮影装置を提供する。【解決手段】光干渉断層撮影装置100は、光源10と、往復動作する可動ミラー21を含むミラーデバイス20と、対象物Sを支持する支持部30と、干渉光L10を生成するビームスプリッタ40と、干渉光L10を検出する光センサ50と、制御部60と、を備える。光センサ50が含む複数の画素51のそれぞれは、受光部、複数の転送ゲート、及び、排出ゲートを含む。制御部60は、干渉光L10のインターフェログラム信号の1周期ごとに、互いに離れた少なくとも3つの時間範囲において複数の転送ゲートが順次に電荷転送状態となり、且つ、少なくとも3つの時間範囲以外の時間範囲において排出ゲートが電荷排出状態となるように、光センサ50に電気信号を付与する。【選択図】図1 |
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