PLASMA ETCHING METHOD AND PLASMA ETCHING DEVICE

To provide a plasma etching method capable of simplifying conditioning of etching for obtaining a desired etching distribution, and a plasma etching device.SOLUTION: A plasma etching method for leading an etching gas into a vacuum chamber 1 and etching an etching object Sw which is installed therein...

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1. Verfasser: SAKUISHI TOSHIYUKI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a plasma etching method capable of simplifying conditioning of etching for obtaining a desired etching distribution, and a plasma etching device.SOLUTION: A plasma etching method for leading an etching gas into a vacuum chamber 1 and etching an etching object Sw which is installed therein in a plasma atmosphere includes at least: a first etching step of etching the etching object just for a predetermined time on a first condition that an etching rate becomes higher from a peripheral region toward a central region of the etching object; and a second etching step of etching the etching object just for a predetermined time on a second condition that the etching rate becomes lower from the peripheral region toward the central region of the etching object. The first etching step and the second etching step which is implemented continuously thereto are defined as one cycle and the one cycle is repeated a plurality of times.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】所望のエッチング分布を得るためのエッチング条件の条件出しを簡素化できるようにしたプラズマエッチング方法及びプラズマエッチング装置を提供する。【解決手段】真空チャンバ1内にエッチングガスを導入し、その内部に設置したエッチング対象物Swをプラズマ雰囲気中でエッチングする本発明のプラズマエッチング方法は、エッチング対象物の周辺領域から中央領域に向かうほどエッチングレートが高くなる第1条件で所定時間だけエッチング対象物をエッチングする第1エッチング工程と、エッチング対象物の周辺領域から中央領域に向かうほどエッチングレートが低くなる第2条件でエッチング対象物を所定時間だけエッチングする第2エッチング工程とを少なくとも含み、第1エッチング工程とこれに引き続き実施される第2エッチング工程とを1サイクルとし、この1サイクルを複数回繰り返す。【選択図】図2