REFLECTION TYPE MASK
To provide a reflection type mask suitable for improving a throughput of an exposure apparatus.SOLUTION: According to one embodiment, a reflection type mask having a multilayer reflection layer and an absorber film is provided. The multilayer reflection layer has a patterned surface. The patterned s...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | To provide a reflection type mask suitable for improving a throughput of an exposure apparatus.SOLUTION: According to one embodiment, a reflection type mask having a multilayer reflection layer and an absorber film is provided. The multilayer reflection layer has a patterned surface. The patterned surface includes a first region, a second region, and a third region. The first region has a plurality of first patterns. The second region is arranged in the periphery of the first region. The third region is included in the second region. The multilayer reflection layer comprises first layers and second layers alternately stacked. The absorber film covers the second region. The absorber film has the second pattern. The second pattern is a pattern where the third region opens.SELECTED DRAWING: Figure 3
【課題】一つの実施形態は、露光装置のスループットの向上に適した反射型マスクを提供することを目的とする。【解決手段】一つの実施形態によれば、多層反射層と吸収体膜とを有する反射型マスクが提供される。多層反射層は、パターン面を有する。パターン面は、第1の領域と、第2の領域と、第3の領域と、を含む。第1の領域は、複数の第1のパターンを有する。第2の領域は、第1の領域の周囲に配されている。第3の領域は、第2の領域に含まれる。多層反射層は、第1の層と第2の層とが交互に積層されている。吸収体膜は、第2の領域を覆う。吸収体膜は、第2のパターンを有する。第2のパターンは、第3の領域が開口されたパターンである。【選択図】図3 |
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