DISPENSER FOR ANALYZER
To provide a dispenser for an analyzer.SOLUTION: A dispenser 100 includes a first structure 102 containing a first fluid path, and a probe 104 containing a second fluid path. The first structure 102 includes a heat source that can heat the first structure and a fluid contained therein. The first str...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide a dispenser for an analyzer.SOLUTION: A dispenser 100 includes a first structure 102 containing a first fluid path, and a probe 104 containing a second fluid path. The first structure 102 includes a heat source that can heat the first structure and a fluid contained therein. The first structure 102 can be physically and thermally connected to the probe 104 such that the probe 104 is indirectly heated by the heat source via thermal energy transferred through the first structure 102. The heat source can be controlled to heat the first structure 102 to a first desired temperature and/or temperature range, which can result in the heating of the probe 104 and the fluid contained in the probe 104 to a second desired temperature and/or temperature range.SELECTED DRAWING: Figure 1A
【課題】分析器用のディスペンサを提供する。【解決手段】ディスペンサ100は、第1の流体経路を含む第1の構造体102と、第2の流体経路を含むプローブ104とを備える。第1の構造体102は、第1の構造体とそれに含まれる流体とを加熱することができる熱源を備える。第1の構造体102は、第1の構造体102を経由して伝達される熱エネルギーを介して、プローブ104が熱源によって間接的に加熱されるように、プローブ104に物理的及び熱的に接続することができる。熱源は、第1の構造体102を第1の所望の温度及び/又は温度範囲に加熱するように制御することができ、その結果として、プローブ104とプローブ104に含まれる流体とを第2の所望の温度及び/又は温度範囲に加熱することができる。【選択図】図1A |
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