DATA DISPLAY DEVICE, DATA DISPLAY METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

To provide a technology that can highly accurately select an outlier from data indicative of a correspondence relation between an objective variable and explanatory variable in a data display device.SOLUTION: A data display device comprises: an acquisition unit that acquires actual measurement data...

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Hauptverfasser: YOGO YASUHIRO, MIYAZAKI IZURU, IWATA TAKAMICHI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a technology that can highly accurately select an outlier from data indicative of a correspondence relation between an objective variable and explanatory variable in a data display device.SOLUTION: A data display device comprises: an acquisition unit that acquires actual measurement data indicative of a correspondence relation between an actual measurement value of an objective variable and an actual measurement value of an explanatory variable; a first creation unit that creates a first scatter diagram plotting a first plot point showing respective actual measurement values of the objective variable and explanatory variable corresponding to the objective variable, using the actual measurement data; a standardization value calculation unit that calculates a standardization value of the objective variable and a standardization value of the explanatory variable, using the actual measurement data; a second creation unit that creates a second scatter diagram plotting a second plot point showing respective actual measurement values of the objective variable and explanatory variable corresponding to the objective variable, using a calculation result of the standardization value calculation unit; an image generation unit that generates an image in which the first scatter diagram and the second scatter diagram are juxtaposed; and a display unit that displays the image the display generation unit generates.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】 データ表示装置において、目的変数と説明変数との対応関係を示すデータから、外れ値を高精度に選択することが可能な技術を提供する。【解決手段】 データ表示装置は、目的変数の実測値と説明変数の実測値との対応関係を示す実測データを取得する取得部と、実測データを用いて目的変数と目的変数に対応する説明変数のそれぞれの実測値を表す第1プロット点をプロットした第1散布図を作成する第1作成部と、実測データを用いて目的変数の標準化値と説明変数の標準化値とを算出する標準化値算出部と、標準化値算出部の算出結果を用いて、目的変数と目的変数に対応する説明変数のそれぞれの標準化値を表す第2プロット点をプロットした第2散布図を作成する第2作成部と、第1散布図と第2散布図とを並べた画像を生成する画像生成部と、画像生成部が生成した画像を表示する表示部と、を備える。【選択図】 図1