TEST DEVICE AND PROGRAM THEREFOR

To provide a test device and a program therefor, with which it is possible to estimate the cause of fault of a device under test with good accuracy on the basis of a measurement result and display the test results of many devices under test collectively in an easily understandable manner.SOLUTION: Provided are a test device and a program therefor for carrying out test for each apparatus on a plurality of devices 2 under test having one or a plurality of apparatuses equipped with a plurality of exchangeable modules. When a test including a plurality of measurements is carried out for each apparatus on a plurality of devices 2 under test and an individual measurement result is acquired, the cause of failure is analyzed on the basis of the measurement result and a faulty module is specified and these are stored in a database. When a specific period is designated in outputting a document, the database is referred to and the test results of a plurality of devices 2 under test in a specific period are displayed in list form by means of a test result history table that includes the number of abnormality occurrence cases per cause of fault per apparatus.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】 計測結果に基づいて被試験装置の故障要因を精度よく推定すると共に、多くの被試験装置の試験結果を一括して分かりやすく表示することができる試験装置及びそのプログラムを提供する。【解決手段】交換可能なモジュールを複数備えた機器を１つ又は複数有する複数の被試験器２について、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験器２に対して機器毎に複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、それらをデータベースに記憶しておき、帳票出力の際に特定期間が指定されると、データベースを参照して、特定期間における複数の被試験器２の試験結果として、機器毎の故障要因毎の異常発生件数を含む試験結果履歴表で一覧表示する試験装置及びプログラムである。【選択図】 図２