TOOL FOR VERTICAL PROBE

PURPOSE: To provide a vertical probe and a tool that have sufficient flexibility with respect to contact reaction force from an electric contact point of an inspection object, and that facilitate insertion assembly of the probe even in the case of a narrow pitch, and that can reduce costs and shorte...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ROKKAKU TADASHI, IWAKUNI NOBUO, IWANA AKIKO
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:PURPOSE: To provide a vertical probe and a tool that have sufficient flexibility with respect to contact reaction force from an electric contact point of an inspection object, and that facilitate insertion assembly of the probe even in the case of a narrow pitch, and that can reduce costs and shorten delivery time.CONSTITUTION: Means for drive positioning relative positions of a vertical Hall plate is provided. As a raw material of a vertical probe, a straight pin is inserted to the vertical Hall plate. In accordance with the drive positioning of the relative positions of the vertical Hall plate, plastic deformation is applied to the straight pin so that an arched shape becoming axisymmetrical is imparted. Further, in the vicinity of a lower side surface of the upper side Hall plate and in the vicinity of an upper surface of the lower side Hall plate, an inflection point is provided, and subsequently, the relative positions of the vertical Hall plate are corrected so that a residual strain caused by the plastic deformation is released.SELECTED DRAWING: Figure 4 【目的】 検査対象の電気接点からの接触反力に対して十分な可撓性を有し、狭ピッチであってもプローブの挿入組立が容易であり、かつコスト引き下げと納期短縮を可能とする、垂直プローブ及び治具を提供することを目的とする。【構成】 上下ホールプレートの相対的位置を駆動位置決めする手段を設け、垂直プローブの素材としての真直ピンを前記上下ホールプレートに挿入し、前記の上下ホールプレートの相対的位置を駆動位置決めすることによって、前記真直ピンに塑性変形を与えて、線対称となる弓型形状を付与すると共に、前記の上側ホールプレートの下側面近傍と、前記の下側ホールプレートの上面近傍において、屈折点を設けるようにした上で、前記の塑性変形によって生じた残留歪を開放するように、前記上下ホールプレートの相対的位置を修正するようにしている。【選択図】図4