VERTICAL PROBE AND JIG FOR VERTICAL PROBE

PURPOSE: To provide a vertical probe and a jig that have sufficient flexibility against contact reaction force from an electrical contact to be inspected, facilitate probe insertion and assembly even at a narrow pitch, and enable cost reduction and delivery time reduction.CONSTITUTION: Means for dri...

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Hauptverfasser: ROKKAKU TADASHI, IWAKUNI NOBUO, IWANA AKIKO
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:PURPOSE: To provide a vertical probe and a jig that have sufficient flexibility against contact reaction force from an electrical contact to be inspected, facilitate probe insertion and assembly even at a narrow pitch, and enable cost reduction and delivery time reduction.CONSTITUTION: Means for driving and positioning relative positions of upper and lower hole plates is provided. A straight pin as a material of a vertical probe is inserted into the upper and lower hole plates. By driving and positioning the relative positions of the upper and lower hole plates, the straight pin is plastically deformed to give it an arcuate shape that is line symmetrical, and inflection points are provided near the lower side surface of the upper hole plate and near the upper surface of the lower hole plate.SELECTED DRAWING: Figure 4 【目的】 検査対象の電気接点からの接触反力に対して十分な可撓性を有し、狭ピッチであってもプローブの挿入組立が容易であり、かつコスト引き下げと納期短縮を可能とする、垂直プローブ及び治具を提供することを目的とする。【構成】 上下ホールプレートの相対的位置を駆動位置決めする手段を設け、垂直プローブの素材としての真直ピンを前記上下ホールプレートに挿入し、前記の上下ホールプレートの相対的位置を駆動位置決めすることによって、前記真直ピンに塑性変形を与えて、線対称となる弓型形状を付与すると共に、前記の上側ホールプレートの下側面近傍と、前記の下側ホールプレートの上面近傍において、屈折点を設けるようにしている。【選択図】図4