EXPOSURE APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE

To suppress decrease in exposure accuracy.SOLUTION: An exposure apparatus includes: a holding stage 10 for holding a semiconductor wafer 110; an adjusting unit 20 for displacing the holding stage 10; a focus sensor 30 for outputting a detection signal corresponding to a surface height of a photoresi...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ICHIKAWA HARUHITO, TAKEI SHINYA
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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