METHOD FOR MANUFACTURING WAFER

To provide a method for manufacturing a wafer including smoothing a surface of a wafer with a resist material.SOLUTION: A method for manufacturing a wafer is a method for forming a resist film, by a spin coating method, on a hollow wafer formed with a cavity therein and formed with a communication h...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: HISHINUMA KUNIYUKI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a method for manufacturing a wafer including smoothing a surface of a wafer with a resist material.SOLUTION: A method for manufacturing a wafer is a method for forming a resist film, by a spin coating method, on a hollow wafer formed with a cavity therein and formed with a communication hole for communicating the inside and outside of the cavity, and includes a first step of forming a resist film on the wafer, and a second step of forming a resist film on the resist film formed in the first step.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】レジスト材によってウエハの表面を平滑化するウエハの製造方法を提供する。【解決手段】ウエハの製造方法は、内部にキャビティが形成され、前記キャビティの内部と外部とを連通する連通孔が形成される中空のウエハにスピンコート法によってレジスト膜を形成する製造方法であって、前記ウエハにレジスト膜を形成する第1工程と、前記第1工程によって形成された前記レジスト膜上にレジスト膜を形成する第2工程と、を有する。【選択図】図1