CT1 TEST CIRCUIT SWITCH AND CT1 TEST CIRCUIT SYSTEM

To efficiently and safely perform a CT1 test.SOLUTION: A CT1 test circuit switch 1 includes: a tester side input terminal Tfor inputting a test current from a tester 11 to a circuit switch 18; a line side output terminal Tfor outputting the test current from the circuit switch 18 to a line A to be a...

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1. Verfasser: HAYASHI NOBORU
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To efficiently and safely perform a CT1 test.SOLUTION: A CT1 test circuit switch 1 includes: a tester side input terminal Tfor inputting a test current from a tester 11 to a circuit switch 18; a line side output terminal Tfor outputting the test current from the circuit switch 18 to a line A to be a test target; a line side input terminal Tfor inputting the test current from the line A to the circuit switch 18; a tester side output terminal Tfor outputting the test current from the line A to the tester 11; a wire 2a connecting the terminal Tand the terminal Tand a wire 2b connecting the terminal Tand the terminal T, in which both the wires include branch lines 3a, 3b connected to an earth 9 and the branch lines 3a, 3b respectively include variable resistors and first switches; bypasses 4a, 4b respectively connected to the branch lines 3a, 3b in parallel and including a second switch; and a third switch 7 connected between the terminal Tand the branch point 10a of the branch line 3a.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】CT1次試験を効率的かつ安全に実施する。【解決手段】試験器11から回路切替器18に試験電流を入力するための試験器側入力端子T1と、回路切替器18から試験対象である線路Aに試験電流を出力するための線路側出力端子T2と、この線路Aからの試験電流を回路切替器18に入力するための線路側入力端子T3と、線路Aからの試験電流を試験器11に出力するための試験器側出力端子T4と、端子T1と端子T2とをつなぐ配線2a、及び、端子T3と端子T4とをつなぐ配線2b、はともにアース9に接続されている分岐線3a,3bを備え、これらの分岐線3a,3bはそれぞれ可変抵抗器と第1のスイッチとを備え、分岐線3a,3bのそれぞれに並設されかつ第2のスイッチを備えている迂回路4a,4bを備え、端子T1と分岐線3aの分岐点10aとの間に設けられている第3のスイッチ7とを備えているCT1次試験用回路切替器1による。【選択図】図1