IONIC MOBILITY SPECTRAL ANALYSIS (IMS) DEVICE COMPRISING CHARGING MATERIAL TRANSPORT CHAMBER

To provide a charging material transport chamber capable of improving maintenance property, assembly property and durability at low cost.SOLUTION: An ion detection assembly 106 has a drift chamber 110, an inlet assembly 108, and a capture assembly 112. The drift chamber is formed of a substantially non-conductive material and/or semiconductor material. A pattern formation resistance wiring 120 is deposited on one or both of an inner surface and outer surface of the drift chamber. The pattern formation resistance wiring is configured to connect an electric energy source. The inlet assembly and the capture assembly are fluid connected to the drift chamber. The inlet assembly has an inlet 104 for receiving a sample, a reaction region 132 for ionizing the sample, and a gate 134 for controlling entry of the ionized sample into the drift chamber. The capture assembly has a capture plate 138 for capturing the sample after the ionized sample passes through the drift chamber.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】低コストで、組立て、メンテナンス、耐久性を改善した帯電物質搬送チャンバを提供する。【解決手段】イオン検出アセンブリ１０６は、ドリフトチャンバ１１０、入口アセンブリ１０８、及び捕集アセンブリ１１２を有する。ドリフトチャンバは、ほぼ非導電性の材料及び／又は半導体材料により形成する。パターン形成抵抗配線１２０をドリフトチャンバの内面又は外面のうち一方又は双方に堆積させる。パターン形成抵抗配線は電気エネルギー源に接続するよう構成する。入口アセンブリ及び捕集アクセスはドリフトチャンバに流体接続する。入口アセンブリは、サンプルを受け入れる入口１０４と、サンプルをイオン化する反応領域１３２と、及びイオン化したサンプルのドリフトチャンバへの進入を制御するゲート１３４とを有する。捕集アセンブリは、イオン化したサンプルがドリフトチャンバを通過後、サンプルを捕集する捕集プレート１３８を有する。【選択図】図１