PLANT INSPECTION APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM
To perceive latent abnormality which come to the surface in advance as a sensor or an actuator which constitutes a plant deteriorate more.SOLUTION: A plant inspection device 10 comprises: a first reception circuit 15 receiving a first measurement signal 21 and a second measurement signal 22 output b...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To perceive latent abnormality which come to the surface in advance as a sensor or an actuator which constitutes a plant deteriorate more.SOLUTION: A plant inspection device 10 comprises: a first reception circuit 15 receiving a first measurement signal 21 and a second measurement signal 22 output by a first sensor 11 and a second sensor 12 which are multiplied; a control circuit 17 outputting an operation signal 24 for an actuator 19 upon the basis of at least one of the first measurement signal 21 and second measurement signal 22; a first deviation calculation circuit 31 calculating a first deviation 41 between the first measurement signal 21 and second measurement signal 22; a first integration circuit 61 integrating the first deviation 41 input in a specified period 27 as a part of an operation period 86with time to output first integration data 51; and a data memory 25a accumulating the first integration data 51 (51, 51, and 51) output in respective operation periods 86.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】プラントを構成するセンサやアクチュエータの劣化の進行に伴い表面化する潜在的な異常を事前に察知する。【解決手段】プラント点検装置10は、多重化された第1センサ11及び第2センサ12の各々から出力される第1計測信号21及び第2計測信号22を受信する第1受信回路15と、第1計測信号21及び第2計測信号22のうち少なくとも一方に基づいてアクチュエータ19の操作信号24を出力する制御回路17と、第1計測信号21及び第2計測信号22の第1偏差41を算出する第1偏差算出回路31と、運転期間86kのうち少なくとも一部の指定期間27において入力した第1偏差41を時間積分し第1積分データ51として出力する第1積分回路61と、各々の運転期間86において出力される第1積分データ51(511,512,513)を蓄積するデータメモリ25aと、を備えている。【選択図】 図1 |
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