INSPECTION DEVICE

To provide an inspection device for inspecting an inspection object by lighting, with which it is possible to move a plurality of contact probes with high accuracy to the inspection object placed on a placement unit.SOLUTION: In this inspection device, a power supply unit for supplying electric power to an inspection object comprises a plurality of contact probes 28 coming in contact with a terminal of the inspection object; a probe holding unit 29 for holding the plurality of contact probes 28; a rotation mechanism for rotating the probe holding part 29 in the vertical direction as the axial direction of rotation; and a movement mechanism for moving the probe holding unit 29 in the vertical direction, longitudinal direction and lateral direction. The probe holding unit 29 is fixed to the output shaft of a speed reducer 38 that constitutes part of the rotation mechanism. In the probe holding unit 29 are formed a plurality of holes 29b, 29c for calibration for aligning the position of the probe holding unit 29 in the direction of rotation around the output shaft of the speed reducer 38 as the center of rotation and for calibrating the movement mechanism.SELECTED DRAWING: Figure 6 【課題】検査対象物を点灯検査するための検査装置において、載置部に載置される検査対象物に対して、複数のコンタクトプローブを精度良く移動させることが可能な検査装置を提供する。【解決手段】この検査装置では、検査対象物に電力を供給する電力供給部は、検査対象物の端子に接触する複数のコンタクトプローブ２８と、複数のコンタクトプローブ２８を保持するプローブ保持部２９と、上下方向を回動の軸方向としてプローブ保持部２９を回動させる回動機構と、上下方向、前後方向および左右方向にプローブ保持部２９を移動させる移動機構とを備えている。プローブ保持部２９は、回動機構の一部を構成する減速機３８の出力軸に固定されている。プローブ保持部２９には、減速機３８の出力軸を回動中心とする回動方向でプローブ保持部２９を位置合わせするとともに、移動機構を校正するための複数の校正用穴２９ｂ、２９ｃが形成されている。【選択図】図６