METHOD OF FORMING SEMICONDUCTOR DEVICE
To provide a method of forming a semiconductor device.SOLUTION: In a method of forming a semiconductor device, a trench (203) is formed in a semiconductor body (205) at a first surface (207) of the semiconductor body (205). Dopants are introduced into a first region (212) at a bottom side of the tre...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | To provide a method of forming a semiconductor device.SOLUTION: In a method of forming a semiconductor device, a trench (203) is formed in a semiconductor body (205) at a first surface (207) of the semiconductor body (205). Dopants are introduced into a first region (212) at a bottom side of the trench (203) by ion implantation. A filling material (216) is formed in the trench (203). Dopants are introduced into a second region (218) at a top side of the filling material (216). Thermal processing of the semiconductor body (205) is carried out and is configured to intermix dopants from the first and the second regions (212, 218) by a diffusion process along a vertical direction (y) perpendicular to the first surface (207).SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】 半導体デバイスを形成する方法を提供する。【解決手段】 半導体デバイスを形成する方法の実施形態によれば、トレンチ(203)は、半導体ボディ(205)の第1の表面(207)において半導体ボディ(205)に形成される。ドーパントは、イオン注入によって、トレンチ(203)の底面における第1の領域(212)に導入される。充填材(216)は、トレンチ(203)に形成される。ドーパントは、充填材(216)の上側における第2の領域(218)に導入される。半導体ボディ(205)の熱処理は、拡散処理により、第1の表面(207)に垂直な垂直方向(y)に沿って、第1及び第2の領域(212、218)からのドーパントを混合するように実行され構成される。【選択図】 図1 |
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