SYSTEM, SAMPLE INTERFACE, AND METHOD OF FORMING IMAGE OF SAMPLE

PROBLEM TO BE SOLVED: To minimize problems stemming from sample-induced scattering in fluorescence microscopy.SOLUTION: A system 10A is provided, a structured illumination stage 110A for providing a spatially modulated imaging field 100a. The system also includes a spatial frequency modulation stage 120A for adjusting a frequency of the spatially modulated imaging field, a sample interface stage 130 for directing the spatially modulated imaging field 100b to a sample 135, and a sensor 150 configured to receive a plurality of fluorescence emission signals 100c from the sample. The system further includes a processor 30 configured to reduce a sample scattering signal and to provide a fluorescence emission signal from a portion of the sample including the spatially modulated imaging field. A method of using the above system to form an image of the sample is also provided.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】蛍光顕微鏡法において試料による散乱から生じる問題を抑制する。【解決手段】システム１０Ａは、空間変調されたイメージング場１００ａを提供する構造化照明ステージ１１０Ａを含む。システムは、空間変調されたイメージング場の周波数を調整する空間周波数変調ステージ１２０Ａ、空間変調されたイメージング場１００ｂを試料１３５に導く試料インターフェースステージ１３０、及び試料からの複数の蛍光放射信号１００ｃを受光するように構成されるセンサー１５０を含む。システムは、また、試料散乱信号を減らし、空間変調されたイメージング場を含む試料の一部からの蛍光放射信号を提供するように構成されるプロセッサー３０を含む。システムを用い試料の像を形成する方法も提供される。【選択図】図１