PLANT EVALUATION DEVICE AND PLANT EVALUATION METHOD

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently estimate an abnormality occurrence factor in a plant.SOLUTION: A plant evaluation device 5 comprises: a first calculation part 52 for calculating a first estimation value of a plant state amount using a steady model, calculating an equipment parameter of plant equipment according to difference between the first estimation value and an actual value of the plant state amount, and storing the equipment parameter as an equipment parameter in a normal state; a first determination part 53 for calculating a second estimation value of the plant state amount using a non-steady model, and determining whether or not, an error of the first estimation value and the actual value is equal to or more than a certain threshold; a second calculation part 54 for calculating a third estimation value of the plant state amount using the steady model according to the determination result by the first determination part, calculating an equipment parameter according to a difference between the third estimation value and actual value, and storing the equipment parameter as an equipment parameter in an abnormal state; and a second determination part 55 for determining whether or not, difference between the equipment parameter in the normal state and the equipment parameter in the normal state is equal to or more than a constant value.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】プラント内の異常発生原因の推定を効率的に行う。【解決手段】プラント評価装置５は、定常モデルを用いてプラント状態量の第１推定値を計算し、第１推定値とプラント状態量の実測値との差に応じてプラント機器の機器パラメータを計算し、正常状態の機器パラメータとして保存する第１計算部５２と、非定常モデルを用いて、プラント状態量の第２推定値を計算し、前記第２推定値と前記実測値との誤差がある閾値以上であるかを判断する第１判断部５３と、前記第１判断部による判断結果に応じて、定常モデルを用いてプラント状態量の第３推定値を計算し、第３推定値と前記実測値との差に応じて機器パラメータを計算し、異常状態の機器パラメータとして保存する第２計算部５４と、正常状態の機器パラメータと異常状態の機器パラメータとの差が一定値以上かどうかを判断する第２判断部５５とを備えている。【選択図】図２