TEST DEVICE, TEST METHOD, AND PROGRAM

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test device with which it is possible to easily test the electrical connection state of the input/output circuit of a control device connected to an other apparatus.SOLUTION: Provided is a test device for testing the electrical connection state of the input/output circuit of a control device connected to an other apparatus via a plurality of terminals, the test device comprising: a first switch circuit, connected to each of the plurality of terminals, for applying simulated input of a signal that corresponds to a signal from the other apparatus to the test device to all of the plurality of terminals when conducting a test; a second switch circuit, connected to each of the plurality of terminals, for shutting off input of a signal from the other apparatus to the test device for all of the plurality of terminals when conducting a test; and a detection circuit for detecting the signal inputted from the other apparatus to the control device via the plurality of terminals and the signal that corresponds to the simulated input, the second switch circuit being opened by a switching signal and the first switch circuit being closed when a prescribed time elapses after the second switch circuit is opened, whereby a test is conducted.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】他の機器と接続する制御装置の入出力回路の電気的接続状態を簡易に試験可能な試験装置を提供する。【解決手段】複数の端子を介して他の装置と接続された制御装置の入出力回路の電気的接続状態を試験する試験装置であって、複数の端子それぞれに対して接続され、試験を行う場合に、他の装置から制御装置への信号に対応する信号を複数の端子すべてに対して模擬入力する第１スイッチ回路と、複数の端子それぞれに対して接続され、試験を行う場合に、他の装置から制御装置への信号の入力を複数の端子すべてに対して遮断する第２スイッチ回路と、他の装置から複数の端子を介して制御装置へ入力された信号及び模擬入力に対応する信号を検出する検出回路と、を備え、切替信号により、第２スイッチ回路を開くとともに、第２スイッチ回路を開いた後、所定時間の経過後に第１スイッチ回路を閉じることで試験を行う。【選択図】図１