CURRENT MEASUREMENT DEVICE

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve current measurement accuracy of a current measurement device.SOLUTION: A current measurement part 2a has insulation layers 201, 202 and 203 arranged between a first electrode 211 and a second electrode 212. The insulation layers 201, 202 and 203 are provided with res...

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Hauptverfasser: ISHIKAWA YUJI, KAJINO HIDETADA, YAMAMOTO TAKASHI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:PROBLEM TO BE SOLVED: To improve current measurement accuracy of a current measurement device.SOLUTION: A current measurement part 2a has insulation layers 201, 202 and 203 arranged between a first electrode 211 and a second electrode 212. The insulation layers 201, 202 and 203 are provided with resistor formation via-holes 201a, 202a and 203a, respectively. Resistance members 221a, 222a and 223a are inserted in the via-holes 201a, 202a and 203a, respectively. The resistance members 221a, 222a and 223a form a resistor 220 connected to the first and second electrodes 211 and 212. In the current measurement part 2a as described above, an opening shape of each of the via-holes 201a, 202a and 203a is formed such that a first open width in a first direction is longer than a second open width in a second direction perpendicular to the first direction.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】電流測定装置の電流測定精度を向上させる。【解決手段】電流測定部2aは、第1電極211と第2電極212の間に配置された絶縁層201、202、203を有する。各絶縁層201、202、203には、抵抗体形成用のビアホール201a、202a、203aが形成されている。これらのビアホール201a、202a、203aのそれぞれに抵抗部材221a、222a、223aが埋め込まれている。抵抗部材221a、222a、223aによって、第1、第2電極211、212に接続された抵抗体220が構成される。このような電流測定部2aにおいて、ビアホール201a、202a、203aのそれぞれの開口形状を、第1方向での第1開口幅の方が第1方向に直交する第2方向での第2開口幅よりも長い長尺形状とする。【選択図】図3