DEBUG SYSTEM

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable the cause of an IC chip fault to be easily specified by debugging.SOLUTION: A cloud server 3 manages a plurality of debug input data and a plurality of debug output data by a database in correspondence to a plurality of fault symptoms of an IC chip. A terminal device 2: (a) designates a fault symptom designated by user operation and makes the cloud server 3 execute a search of debug input data, specifies debug input data corresponding to the fault symptom designated by user operation, and sets the specified debug input data to a debug device 1; (b) designates debug output data acquired from the debug device 1 and makes the cloud server 3 execute a search of a plurality of debug output data, and specifies the cause of fault corresponding to the designated debug output data.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】 デバッグによってＩＣチップの不具合の原因特定を簡単に行えるようにする。【解決手段】 クラウドサーバー３は、ＩＣチップの複数の不具合事象に対応して、複数のデバッグ入力データおよび複数のデバッグ出力データをデータベースで管理している。端末装置２は、（ａ）ユーザー操作により指定された不具合事象を指定してクラウドサーバー３にデバッグ入力データの検索を実行させて、ユーザー操作により指定された不具合事象に対応するデバッグ入力データを特定し、特定したデバッグ入力データをデバッグ装置１に設定し、（ｂ）デバッグ装置１から取得されたデバッグ出力データを指定してクラウドサーバー３に複数のデバッグ出力データの検索を実行させ、指定したデバッグ出力データに対応する不具合原因を特定する。【選択図】 図１