SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR EVALUATING TERMINAL CHARACTERISTIC

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the man-hours or time required for evaluating the AC characteristic of a semiconductor integrated circuit.SOLUTION: A test pattern signal is inputted from an input terminal 301c of a semiconductor integrated circuit 1, a test pattern signal is outputted from the input terminal 301c to a first-stage flip-flop circuit 303c, a test pattern signal is extracted from the output terminal of the first-stage flip-flop circuit 303c, and a propagation delay time from the input terminal 301c to the first-stage flip-flop circuit 303c is measured on the basis of the test pattern signal. Furthermore, a test pattern signal is applied to a last-stage flip-flop circuit 502e1 in a semiconductor integrated circuit 1 module, a test pattern signal is extracted from an output terminal 505e1, and a propagation delay time from the last-stage flip-flop circuit to the output terminal is measured on the basis of the extracted test pattern signal.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】半導体集積回路のＡＣ特性評価に係る工数や時間をより低減する。【解決手段】半導体集積回路1の入力端子３０１ｃからテストパターン信号を入力し、入力端子３０１ｃから初段フリップフロップ回路３０３ｃにテストパターン信号を出力し、初段フリップフロップ回路３０３ｃの出力端からテストパターン信号を取り出し、そのテストパターン信号を基に、入力端子３０１ｃから初段フリップフロップ回路３０３ｃまでの伝達遅延時間を計測する。また、半導体集積回路1のモジュール内の最終段のフリップフロップ回路５０２ｅ１に対して、テストパターン信号を印加し、出力端子５０５ｅ１からテストパターン信号を取り出すステップと、取り出されたテストパターン信号を基に、最終段フリップフロップ回路から出力端子までの伝達遅延時間を計測する。【選択図】 図2