DIAGNOSIS PROGRAM, DIAGNOSIS METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the rate of fault detection regarding the address circuit of a memory that comes with an ECC, without using address information for the generation of a redundancy bit and without rewriting the memory.SOLUTION: The memory stores the data of mutually different addresses and a redundancy bit added to the data in a plurality of memory cells that share the same selection signal wiring (for example, a word line or a column line) and outputs readout data corresponding to a designated address, and an ECC decoder performs error detection on the readout data. When an error is detected by th ECC decoder, access is made to one or a plurality of addresses selected by the same selection signal line as a selection signal line that selects the readout data in which the error is detected and differing from the address of the readout data, and the result of error detection on the readout data is evaluated, whereby the fault diagnosis of the memory is performed.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】ＥＣＣ付きのメモリにおいて、冗長ビットの生成にアドレス情報を使用することなく、且つ、メモリの書き換えを行うことなく、当該メモリのアドレス回路についての故障検出率を向上する。【解決手段】メモリは、互いに異なるアドレスのデータと当該データに付加された冗長ビットを、同一の選択信号配線（例えばワード線またはカラム線）を共有する複数のメモリセルに格納しており、指定されるアドレスに対応する読み出しデータを出力し、ＥＣＣデコーダはその読み出しデータに対してエラー検出を行う。ＥＣＣデコーダによってエラーが検出されたときに、当該エラーが検出された読み出しデータを選択する選択信号配線と同じ選択信号配線によって選択され、その読み出しデータのアドレスとは異なる１または複数のアドレスにアクセスし、その読み出しデータに対するエラー検出の結果を評価することによって、メモリの故障診断を行う。【選択図】図１