ELECTRO-OPTIC DEVICE, METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTIC OF ELECTRO-OPTIC DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electro-optic device that suppresses increase in a test time and suppresses increase in a manufacturing cost.SOLUTION: The electro-optic device includes: a display unit 11 having a plurality of pixel circuits 11a each including a drive transistor Tm and a light-emitting element OLED that emits light responding to a current output from the drive transistor Tm when a voltage is applied to a gate terminal G of the drive transistor Tm; and a test unit 15 that controls an electric connection to the gate terminal G of each drive transistor Tm in the plurality of pixel circuits 11a through a switch SW1, and that, when the test unit is electrically connected to the gate terminal G of each drive transistor Tm in the plurality of pixel circuits 11a, applies a test voltage to the gate terminal G of each drive transistor Tm in the plurality of pixel circuits 11a. 【課題】テスト時間の増大を抑制し、製造コストの増加を抑制した電気光学装置を提供する。【解決手段】駆動トランジスタＴｍと、駆動トランジスタＴｍのゲート端子Ｇに電圧が印加された場合に駆動トランジスタＴｍから出力される電流に応じて発光する発光素子ＯＬＥＤと、を備えた画素回路１１ａを複数有する表示部１１と、複数の画素回路１１ａにおける駆動トランジスタ１１ａの各々のゲート端子Ｇとの電気的な接続がスイッチＳＷ１により制御され、複数の画素回路１１ａの各々の駆動トランジスタＴｍのゲート端子Ｇと電気的に接続された場合には、複数の画素回路１１ａにおける各々の駆動トランジスタＴｍのゲート端子Ｇにテスト電圧を印加するテスト部１５と、を有する。【選択図】図２