DEVICE AND SYSTEM

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect abnormality of a filter accurately.SOLUTION: A filter 113 is provided at the intake position of a rack 110 for housing a first electronic device 111. A first measurement section 121 measures the temperature of the first electronic device 111. A second measurement section 122 measures the temperature on the periphery of the first electronic device 111. A determining section 124 determines whether or not the surface temperature has exceeded a predetermined temperature dependent on the peripheral temperature, based on each temperature measured by the first measurement section 121 and second measurement section 122 when air is taken into the rack 110 from the intake position by means of a fan 114. When a determination is made that the surface temperature has exceeded a predetermined temperature in the determining section 124, an output section 125 outputs a signal indicating abnormality of the filter 113. 【課題】フィルタの異常を精度よく検出すること。【解決手段】フィルタ１１３は、第１電子デバイス１１１を収容するラック１１０の吸気位置に設けられる。第１測定部１２１は、第１電子デバイス１１１の温度を測定する。第２測定部１２２は、第１電子デバイス１１１の周辺の温度を測定する。判断部１２４は、送風機１１４によって吸気位置からラック１１０内に空気が取り込まれている際に第１測定部１２１および第２測定部１２２によって測定された各温度に基づいて、表面の温度が周辺の温度に応じた所定温度を超えたか否かを判断する。出力部１２５は、判断部１２４によって表面の温度が所定温度を超えたと判断された場合に、フィルタ１１３の異常を示す信号を出力する。【選択図】図１