TOOL ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PROGRAM
PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to easily extract an improvement inherent in an application tool used for work including a preset procedure as compared with a conventional technique.SOLUTION: A tool analysis support apparatus comprises: a waveform data conversion unit 12 generating wavefor...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | PROBLEM TO BE SOLVED: To make it possible to easily extract an improvement inherent in an application tool used for work including a preset procedure as compared with a conventional technique.SOLUTION: A tool analysis support apparatus comprises: a waveform data conversion unit 12 generating waveform data representing a relation between a chronological order of operations and an ID of each window displayed by the operations from operation history information indicating a procedure for performing maintenance work on a facility appliance using an application tool; a clustering unit 13 classifying the generated waveform data and previously generated waveform data into clusters on the basis of the center of gravity of each waveform data; a representative waveform data generation unit 14 generating representative waveform data per cluster; and a display processing unit 16 displaying the representative waveform data.
【課題】予め決められた手順を含む作業に用いられるアプリケーションツールに内在する改善点の抽出を、従来に比して簡便に行えるようにする。【解決手段】アプリケーションツールを用いて設備機器の保守作業を行ったときの手順を示す操作履歴情報から、操作した時間順と操作により表示させたウィンドウのIDとの関係を表す波形データを生成する波形データ変換部12と、生成された波形データと過去に生成された波形データを、各波形データの重心に基づきクラスタに分類するクラスタ分類部13と、クラスタ毎に代表波形データを生成する代表波形データ生成部14と、代表波形データを表示する表示処理部16と、を有する。【選択図】図1 |
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