MAGNETIC DISK INSPECTION DEVICE AND MAGNETIC DISK INSPECTION METHOD
PROBLEM TO BE SOLVED: To further improve an accuracy of defect marking position with respect to an actual defect position on a magnetic disk of a magnetic disk inspection device and an inspection method.SOLUTION: A magnetic disk inspection device 5 performs: primary inspection of writing and reading...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; jpn |
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Zusammenfassung: | PROBLEM TO BE SOLVED: To further improve an accuracy of defect marking position with respect to an actual defect position on a magnetic disk of a magnetic disk inspection device and an inspection method.SOLUTION: A magnetic disk inspection device 5 performs: primary inspection of writing and reading test data by spirally scanning an entire surface of a magnetic disk 1 with a first write head 3 and a read head 4b to detect a defect site; and then secondary inspection of concentrically scanning a near-field region including the defect site detected by the primary inspection with the first write head 3 and the read head 4b to again detect a defect site. When both defect sites detected by the primary inspection and the secondary inspection coincide with each other, a magnetic signal is marked on the defect site using a second write head 4a.
【課題】磁気ディスク検査装置及び検査方法において、磁気ディスク上の実欠陥位置に対する欠陥マーキング位置精度をより向上させること。【解決手段】磁気ディスク検査装置5は、1次検査として、磁気ディスク1全面に対し第1の書込ヘッド3と読出ヘッド4bをスパイラル走査させてテストデータの書込みと読出しを行い、欠陥箇所を検出する。次に2次検査として、1次検査で検出された欠陥箇所を含む近傍領域に対し、第1の書込ヘッド3と読出ヘッド4bを同心円走査させて再度欠陥箇所を検出する。そして、1次検査と2次検査で検出した両者の欠陥箇所が一致した場合、該欠陥箇所について、第2の書込ヘッド4aにより磁気信号のマーキングを行う。【選択図】図1 |
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