SCREWLESS CONTACT SPRING EXCHANGE

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact spring block and a contact socket for a sequential test of electronic components, a method of exchanging contact springs of a contact spring block, and a method of exchanging contact springs of a contact socket.SOLUTION: A contact spring block for a sequential test of electronic components comprises a base block, a group of single contact springs, and a clip-on device. The group of single contact springs is clamped and aligned when the clip-on device is clipped to the base block. 【課題】電子部品の逐次試験のための接触ばねブロック及び接触ソケットを提供する。また、接触ばねブロックの接触ばねを交換する方法及び接触ソケットの接触ばねを交換する方法を提供する。【解決手段】電子部品の逐次試験のための接触ばねブロックは、ベースブロック、単一接触ばねのグループ及びクリップオンデバイスを含む。クリップオンデバイスがベースブロックに留め付けられるとき、単一接触ばねのグループは、固定及び整列される。【選択図】図２