ELECTRONIC DEVICE

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve an electronic device exhibiting better bonding reliability even when used under a high temperature environment, while preventing excessive rise of solder melting point, in an electronic device manufactured by mounting an electronic component on a lead frame, and then...

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Hauptverfasser: HAYASHI EIJI, SAKAMOTO ZENJI, TERUI KENICHIRO
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve an electronic device exhibiting better bonding reliability even when used under a high temperature environment, while preventing excessive rise of solder melting point, in an electronic device manufactured by mounting an electronic component on a lead frame, and then soldering the electronic component and lead frame.SOLUTION: An electronic device includes a lead frame 10, an electronic component 20 mounted on the lead frame 10, and a solder 30 interposed between the lead frame 10 and electronic component 20, and joining them. The lead frame 10 is composed only of Cu and Ni, where 0.09-0.40 wt% of Ni is contained for the total weight of the lead frame 10, and 0.03-0.19 wt% of Ni is contained for the total weight of the solder 30. 【課題】リードフレーム上に電子部品を搭載して、電子部品とリードフレームとをはんだ接合してなる電子装置において、はんだ融点の過上昇を防止しつつ、高温環境下で使用した場合でも、より接合信頼性に優れる電子装置を実現する。【解決手段】リードフレーム10と、リードフレーム10上に搭載された電子部品20と、リードフレーム10と電子部品20との間に介在し、リードフレーム10と電子部品20とを接合するはんだ30と、を備え、リードフレーム10は、CuとNiとのみよりなるものであって、当該リードフレーム10の総重量に対してNiが0.09重量%以上0.40重量%以下含有されたものであり、はんだ30は、当該はんだ30の総重量に対してNiが0.03重量%以上0.19重量%以下含有されたものである。【選択図】図1