CIRCUIT ARRANGEMENT FOR ELIMINATING THE ERROR DERIVING FROM THE TEMPERATURE-ASYMMETRY OF THE FURNANCE OF DTA TESTING

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SOMOGYVARI,PETER,HU, ARNOLD,MIKLOS,HU, PAULIK,JENOE,HU, PAULIK,FERENC,HU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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