Dispositif de mesure à miroir ellipsoïdique de révolution
Ce dispositif de mesure (19) comprend deux miroirs (25) coaxiaux comprenant chacun une surface réfléchissante (27, les surfaces réfléchissantes des deux miroirs étant positionnées l'une en face de l'autre et formant chacune une portion d'une même ellipsoïde de révolution (29) comprena...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Ce dispositif de mesure (19) comprend deux miroirs (25) coaxiaux comprenant chacun une surface réfléchissante (27, les surfaces réfléchissantes des deux miroirs étant positionnées l'une en face de l'autre et formant chacune une portion d'une même ellipsoïde de révolution (29) comprenant un premier et un second foyer (F1, F2), le dispositif de mesure (19) comprenant en outre un module d'émission de lumière (31) selon un axe principal d'émission (33) passant par le premier foyer (F1), et un module de collecte de lumière (35) selon un axe principal de collecte (37) passant par le premier foyer (F1), le dispositif de mesure (19) étant configuré pour être positionné de sorte que le second foyer (F2) de l'ellipsoïde de révolution (29) est positionné à la surface d'un objet à mesurer (21). Figure pour l'abrégé : Fig. 2 |
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