Procédé de commande d'un système mécatronique
Procédé de commande d'un systèmes mécatronique Un aspect de l'invention concerne un procédé 100 de commande d'un système mécatronique, basé sur un modèle de prédiction du comportement du système mécatronique et une fonction de coût assurant le respect de contraintes par le système méc...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Procédé de commande d'un systèmes mécatronique Un aspect de l'invention concerne un procédé 100 de commande d'un système mécatronique, basé sur un modèle de prédiction du comportement du système mécatronique et une fonction de coût assurant le respect de contraintes par le système mécatronique pour le suivi d'une consigne de trajectoire durant un horizon de prédiction, le procédé comprenant : reformuler 10 les contraintes en des fonctions barrières et intégrer les fonctions barrières dans la fonction de coût ; etpour chaque période d'échantillonnage d'une séquence de périodes d'échantillonnage:obtenir 20 la consigne de trajectoire et au moins une mesure du système mécatronique à un état courant ;déterminer 30 des coefficients d'un polynôme d'ordre par une méthode de Nelder-Mead optimisant la fonction de coût en se basant sur le modèle de prédiction, la détermination prenant en entrée la consigne de trajectoire et la au moins une mesure du système mécatronique obtenues 20 ;calculer 40 une commande en évaluant le polynôme; etappliquer 50 la commande au système mécatronique. Figure à publier avec l'abrégé : Figure 1
One aspect of the invention relates to a method (100) for controlling a mechatronic system, based on a model for predicting the behaviour of the mechatronic system and a cost function ensuring compliance with constraints by the mechatronic system, with a view to following path instructions to a prediction horizon, the method comprising: reformulating (10) the constraints into barrier functions and integrating the barrier functions into the cost function; and for each sampling period of a sequence of sampling periods: obtaining (20) the path instructions and at least one measurement of the mechatronic system in a current state; determining (30) coefficients of a polynomial of order m using a Nelder-Mead method optimizing the cost function based on the predicting model, this determining step receiving as input the path instructions and the at least one measurement of the mechatronic system obtained (20); computing (40) a command through evaluation of the polynomial; and applying (50) the command to the mechatronic system. |
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