Procédés et systèmes de caractérisation optique d'un milieu volumique et diffusant

Selon un aspect, le procédé de caractérisation optique d'un échantillon (10) comprend : le positionnement dudit échantillon dans un champ de vision d'un premier objectif de microscope (110) situé dans un bras objet d'un premier interféromètre (120); la génération, au moyen d'un dispositif d'illumination (130) d'une première pluralité de Nin ondes lumineuses incidentes; pour chaque onde lumineuse incidente de front d'onde donné, l'acquisition d'une deuxième pluralité () de signaux d'interférence, chaque signal d'interférence résultant de l'interférence entre une onde rétrodiffusée par l'échantillon et une onde de référence, lesdits signaux d'interférence étant acquis selon un exemple pour fréquences différentes; la détermination d'une matrice réflexion polychromatique comprenant l'ensemble des signaux d'interférence acquis pour les Nin ondes lumineuses incidentes et fréquences; la détermination numérique à partir de ladite matrice réflexion polychromatique, d'une matrice de réflexion volumique focalisée; la détermination, à partir de ladite première matrice de réflexion volumique focalisée, d'au moins une cartographie d'un paramètre physique dudit échantillon. Fig. 1A The invention relates to a method for the optical characterisation of a sample, the method comprising: positioning the sample in a field of view of a first microscope objective located in an object arm of an interferometer; generating, by means of an illuminating device, a first plurality of Nin incident light waves; for each incident light wave of a given wavefront, acquiring a second plurality Nω of interference signals, each interference signal resulting from the interference between a wave backscattered by the sample and a reference wave, the interference signals being acquired according to one example for different Nω frequencies; determining a polychromatic reflection matrix comprising all of the interference signals acquired for the Nin incident light waves and the Nω frequencies; numerically determining, on the basis of the polychromatic reflection matrix, a focused bulk reflection matrix; determining, on the basis of this first focused bulk reflection matrix, at least one map having a physical parameter of the sample.