Système et procédé interférométrique à atomes froids et à impulsions de lumière, pour mesure embarquée d'accélération ou de rotation

L'invention concerne un système interférométrique (100) à atomes froids et à impulsions de lumière, comprenant une chambre à vide (7) contenant un nuage d'atomes froids (8), un composant optique (5) rétro-réflecteur plan, une source laser (6) adaptée pour générer une séquence d'impulsions laser et un système de détection (17) apte à effectuer une mesure inertielle par interférométrie atomique. Selon l'invention, le système interférométrique (100) comporte un dispositif d'actionnement (13) reliant mécaniquement le composant optique (5) à une platine (4) et un capteur de rotation (1, 2) adapté pour fournir une mesure de rotation de la chambre à vide (7) autour d'un axe transverse à l'axe du laser à chaque temps d'interrogation de ladite séquence, le dispositif d'actionnement (13) étant apte à incliner angulairement le composant optique (5) par rapport à ladite platine (4) pendant chaque temps d'interrogation de ladite séquence en fonction de ladite mesure de rotation.Figure pour l'abrégé : Fig. 1 The invention relates to a cold-atom and light-pulse interferometric system (100) comprising a vacuum chamber (7) containing a cloud of cold atoms (8), a planar retro-reflective optical component (5), a laser source (6) suitable for generating a sequence of laser pulses, and a detection system (17) able to perform an inertial measurement by atom interferometry. According to the invention, the interferometric system (100) comprises an actuating device (13) that mechanically connects the optical component (5) to a plate (4), and a rotation sensor (1, 2) which is suitable for providing a measurement of the rotation of the vacuum chamber (7) about an axis transverse to the axis of the laser at each interrogation time in said sequence, the actuating device (13) being able to angularly incline the optical component (5) relative to said plate (4) during each interrogation time in said sequence on the basis of said rotation measurement.