Procédé et installation de test d'étanchéité d'une pièce pour déterminer sa conformité ou sa non-conformité
L'invention concerne un procédé de test d'étanchéité d'une pièce pour déterminer sa conformité ou sa non-conformité, par gaz traceur circulant dans ladite pièce durant la phase de test, par mesure d'un courant ionique dudit gaz traceur. Ce procédé comprend les étapes suivantes :...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | L'invention concerne un procédé de test d'étanchéité d'une pièce pour déterminer sa conformité ou sa non-conformité, par gaz traceur circulant dans ladite pièce durant la phase de test, par mesure d'un courant ionique dudit gaz traceur. Ce procédé comprend les étapes suivantes : durant une phase préalable de calibration, détermination d'un coefficient de corrélation A, b) durant la phase de test d'étanchéité, évaluation de la conformité ou de la non-conformité de la pièce à un instant Ti, basée sur une comparaison entre une valeur de fuite limite acceptable Vlimite et une valeur de fuite estimée Vfuite _Ti calculée à l'instant Ti, lequel calcul de la valeur de fuite estimée Vfuite _Ti prend en compte le coefficient de corrélation A et la variation du courant ionique mesuré entre les instants T0 et Ti. .
The invention relates to a method for testing the seal-tightness of a part, to determine its compliance or non-compliance, using a tracer gas that is made to flow through said part during the testing phase, a measurement of an ion current of said tracer gas being taken. This method comprises the following steps: a) during a prior calibration phase, determining a correlation coefficient A, b) during the phase of testing seal-tightness, evaluating the compliance or non-compliance of the part at a time Ti, based on a comparison between an acceptable limit leakage value Vlimit and an estimated leakage value Vleak_Ti computed at the time Ti, which computation of the estimated leakage value Vleak_Ti takes into account the correlation coefficient A and the variation in the ion current measured between the times T0 and Ti. |
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