PROCEDE D'OBTENTION DU PROFIL D'UNE SURFACE EN MOUVEMENT PAR RAPPORT AU SYSTEME

Procédé d'obtention du profil de la surface externe (22) d'un milieu (21) présentant un plan médian (23) comprenant les étapes suivantes : - Obtenir deux signaux temporels A et B (1002), pour, à chaque instant, une même cible géométrique sur une ligne de lecture de la surface externe (22) ; - Déterminer au moins une fréquence Doppler (2001) associée à chaque signal temporel A et B ; - Echantillonner chaque signal temporel A et B (2002) à une fréquence supérieure à 2 fois la fréquence Doppler pour obtenir un signal utile ; - Déterminer une enveloppe (2004) du signal utile de chaque signal A et B ; - Effectuer une combinaison relative entre les enveloppes de chaque signal A et B (3001) pour obtenir une fonction F monotone et bijective ; - Déterminer le profil de la surface externe (3002) à l'aide d'une calibration de la fonction F. Figure pour l'abrégé : Fig 4 A method for obtaining the profile of the outer surface (22) of a medium (21) having a median plane (23) comprising the following steps: obtaining two time signals A and B (1002), for, at each instant, a same geometrical target on a readout line of the outer surface (22); determining at least one Doppler frequency (2001) associated with each time signal A and B; sampling each time signal A and B (2002) at a frequency greater than 2 times the Doppler frequency to obtain a payload signal; determining an envelope (2004) of the payload signal of each signal A and B; performing a relative combination between the envelopes of each signal A and B (3001) to obtain a monotonic and bijective function F; and determining the profile of the outer surface (3002) using a calibration of the function F.