Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés
Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'é...
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creator | ESSANI, Mouad EXCOFFIER, Emmanuel BRACKX, Emmanuelle |
description | Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé : aucune
Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4) |
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Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)</description><language>fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210903&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3107768A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210903&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3107768A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ESSANI, Mouad</creatorcontrib><creatorcontrib>EXCOFFIER, Emmanuel</creatorcontrib><creatorcontrib>BRACKX, Emmanuelle</creatorcontrib><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><description>Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé : aucune
Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDANKMpPPrwy5fBKhRT1xLzEnMriVIXDK3MOr8xNzStJzCxKVUhJVSjOz8lMSS1WSMksyyw-vLKYh4E1LTGnOJUXSnMzKLi5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEuwUZGxqYm5tZOBoaE6EEAINuMAU</recordid><startdate>20210903</startdate><enddate>20210903</enddate><creator>ESSANI, Mouad</creator><creator>EXCOFFIER, Emmanuel</creator><creator>BRACKX, Emmanuelle</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210903</creationdate><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><author>ESSANI, Mouad ; EXCOFFIER, Emmanuel ; BRACKX, Emmanuelle</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR3107768A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>fre</language><creationdate>2021</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ESSANI, Mouad</creatorcontrib><creatorcontrib>EXCOFFIER, Emmanuel</creatorcontrib><creatorcontrib>BRACKX, Emmanuelle</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ESSANI, Mouad</au><au>EXCOFFIER, Emmanuel</au><au>BRACKX, Emmanuelle</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><date>2021-09-03</date><risdate>2021</risdate><abstract>Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé : aucune
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