Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés

Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'é...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ESSANI, Mouad, EXCOFFIER, Emmanuel, BRACKX, Emmanuelle
Format: Patent
Sprache:fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator ESSANI, Mouad
EXCOFFIER, Emmanuel
BRACKX, Emmanuelle
description Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé  : aucune Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_FR3107768A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>FR3107768A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_FR3107768A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZDANKMpPPrwy5fBKhRT1xLzEnMriVIXDK3MOr8xNzStJzCxKVUhJVSjOz8lMSS1WSMksyyw-vLKYh4E1LTGnOJUXSnMzKLi5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEuwUZGxqYm5tZOBoaE6EEAINuMAU</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><source>esp@cenet</source><creator>ESSANI, Mouad ; EXCOFFIER, Emmanuel ; BRACKX, Emmanuelle</creator><creatorcontrib>ESSANI, Mouad ; EXCOFFIER, Emmanuel ; BRACKX, Emmanuelle</creatorcontrib><description>Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé  : aucune Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)</description><language>fre</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210903&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=3107768A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210903&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=3107768A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ESSANI, Mouad</creatorcontrib><creatorcontrib>EXCOFFIER, Emmanuel</creatorcontrib><creatorcontrib>BRACKX, Emmanuelle</creatorcontrib><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><description>Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé  : aucune Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDANKMpPPrwy5fBKhRT1xLzEnMriVIXDK3MOr8xNzStJzCxKVUhJVSjOz8lMSS1WSMksyyw-vLKYh4E1LTGnOJUXSnMzKLi5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEuwUZGxqYm5tZOBoaE6EEAINuMAU</recordid><startdate>20210903</startdate><enddate>20210903</enddate><creator>ESSANI, Mouad</creator><creator>EXCOFFIER, Emmanuel</creator><creator>BRACKX, Emmanuelle</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210903</creationdate><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><author>ESSANI, Mouad ; EXCOFFIER, Emmanuel ; BRACKX, Emmanuelle</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR3107768A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>fre</language><creationdate>2021</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ESSANI, Mouad</creatorcontrib><creatorcontrib>EXCOFFIER, Emmanuel</creatorcontrib><creatorcontrib>BRACKX, Emmanuelle</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ESSANI, Mouad</au><au>EXCOFFIER, Emmanuel</au><au>BRACKX, Emmanuelle</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés</title><date>2021-09-03</date><risdate>2021</risdate><abstract>Procédé d'analyse élémentaire d'un échantillon de type microparticule comprenant : réalisation d'une image de l'échantillon à l'aide d'un MEB et détermination du caractère microparticule de l'échantillon ; acquisition d'un spectre mesuré de raies X de l'échantillon à l'aide d'un dispositif de microanalyse ; acquisition d'un spectre simulé de raies X de l'échantillon par simulation Monte Carlo en prenant en compte la densité, les dimensions et la forme de l'échantillon, ainsi que la résolution du dispositif de microanalyse; détermination des intensités (IBg) i, mes via la construction du fond continu du spectre mesuré avec : avec et où K est un facteur d'étalonnage tenant compte de paramètres instrumentaux du dispositif de microanalyse, E 0 est l'énergie des électrons incidents en keV, E est l'énergie du pic, a, b, c, d et m sont des constantes d'ajustement. Enfin, calcul itératif des concentrations Ci des éléments de l'échantillon avec : l'itération commençant avec k=1 et étant arrêtée lorsque Figure pour l'abrégé  : aucune Disclosed is a method for elementary analysis of a microparticle sample, comprising: producing an image of the sample using an SEM and determining the microparticle nature of the sample; acquiring a measured x-ray spectrum of the sample using a microanalysis device; acquiring a simulated x-ray spectrum of the sample by Monte Carlo simulation taking into account the density, the dimensions and shape of the sample, as well as the resolution of the microanalysis device; determining the intensities (IBg) i, mes) via the construction of the continuous background of the measured spectrum, using: formula (1) with formula (2), where K is a calibration factor taking into account instrumental parameters of the microanalysis device, E0 is the energy of the incident electrons in keV, E is the peak energy and a, b, c, d and m are adjustment constants. Finally, iterative calculation of the concentrations Q of the elements of the sample using: formula (3), the iteration starting with k=i and being stopped when Ck+1-Ck~10-3 (within ± 10-4)</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language fre
recordid cdi_epo_espacenet_FR3107768A1
source esp@cenet
subjects INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
title Procédé d'analyse élémentaire de solides divisés
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-04T18%3A23%3A19IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ESSANI,%20Mouad&rft.date=2021-09-03&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EFR3107768A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true