METHODE DE MESURE DE LA RUGOSITE DE LIGNE D'UN RESEAU DE LIGNES PAR DIFFRACTION DE RAYONS X
Méthode de mesure de la rugosité de largeur de ligne d'un réseau de p lignes d'un échantillon, p étant supérieur ou égal à 2, lesdites lignes ayant une longueur I, comportant : a) l'acquisition d'au moins un cliché de diffraction par diffraction en transmission de rayons X aux pe...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Méthode de mesure de la rugosité de largeur de ligne d'un réseau de p lignes d'un échantillon, p étant supérieur ou égal à 2, lesdites lignes ayant une longueur I, comportant : a) l'acquisition d'au moins un cliché de diffraction par diffraction en transmission de rayons X aux petits angles au moyen d'un faisceau de rayons X couvrant p lignes dudit réseau, b) mesure, sur le cliché de diffraction, des intensités le long de la direction qy, dans un plan de coupe passant par qx = 0, c) division desdites intensités par n et par I, d) traçage de la densité spectrale de puissance en fonction de qy, e) détermination à partir de la densité spectrale de puissance de paramètres caractéristiques de la rugosité de largeur de ligne, formant la mesure de la rugosité de largeur de ligne. |
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