PROCEDE DE DETERMINATION D'UNE TENSION DE SORTIE D'UN TRANSISTOR

L'invention concerne un procédé de détermination d'une tension de sortie d'un transistor (10), le transistor (10) comprenant une électrode d'entrée (G), une première électrode de sortie (C) et une deuxième électrode de sortie (E), le potentiel de la première électrode de sortie (C) étant plus élevé que le potentiel de la deuxième électrode de sortie (E), la tension de sortie étant la différence de potentiel entre la première électrode de sortie (C) et la deuxième électrode de sortie (E), le procédé comprenant : - la mesure de l'évolution au cours du temps d'une tension de commande du transistor (10), la tension de commande étant la différence de potentiel entre l'électrode d'entrée (G) et la deuxième électrode de sortie (E), et - la détermination de la tension de sortie à partir de la tension de commande mesurée. A method for determining an output voltage of a transistor, the transistor comprising an input electrode, a first output electrode and a second output electrode, the potential of the first output electrode being higher than the potential of the second output electrode the output voltage being the difference in potential between the first output electrode and the second output electrode. The method includes a step for measuring the evolution over time of a control voltage of the transistor, the control voltage being the difference in potential between the input electrode and the second output electrode, and determining the output voltage from the measured control voltage.