CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX
L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | fre |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | BRAMBILLA ANDREA POTOP ALEXANDRA GORECKI ALEXIA |
| description | L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet échantillon (Sech), situé dans une bande spectrale X et/ou gamma, dit spectre transmis de l'échantillon ; - pour chaque spectre parmi une pluralité de spectres de calibrage (Sbase(Lk; Ll)), calcul d'une vraisemblance à partir dudit spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) et du spectre transmis de l'échantillon (Sech), chaque spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) correspondant au spectre d'énergie transmis à travers un empilement de cales formées chacune d'une épaisseur connue de matériau de calibrage ; - estimation des épaisseurs caractéristiques (L1,L2) associées à l'échantillon selon le critère de maximum de vraisemblance.
A method is provided for characterizing a sample, by estimating a plurality of characteristic thicknesses, each being associated with a calibration material. The method includes acquiring an energy spectrum transmitted through the sample, located in an X and/or gamma spectral band; for each spectrum of a plurality of calibration spectra, calculating a likelihood from said calibration spectrum, and from the spectrum transmitted through the sample, each calibration spectrum corresponding to the energy spectrum transmitted through a stack of gauge blocks, each formed of a known thickness of a calibration material; and estimating the characteristic thicknesses associated with the sample according to the criterion of maximum likelihood. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_FR3037401A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>FR3037401A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_FR3037401A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHB3dgxydA5xDfIMdgzx9PdTcFEP9VNwdfZw9Avx9PEBCgQ4Bim4uDr7-wb4B3uClbj6KTg5BrsCRRV8HUFaHUMjeBhY0xJzilN5oTQ3g4Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvFuQsYGxuYmBoaOhMRFKAHdHLAI</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX</title><source>esp@cenet</source><creator>BRAMBILLA ANDREA ; POTOP ALEXANDRA ; GORECKI ALEXIA</creator><creatorcontrib>BRAMBILLA ANDREA ; POTOP ALEXANDRA ; GORECKI ALEXIA</creatorcontrib><description>L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet échantillon (Sech), situé dans une bande spectrale X et/ou gamma, dit spectre transmis de l'échantillon ; - pour chaque spectre parmi une pluralité de spectres de calibrage (Sbase(Lk; Ll)), calcul d'une vraisemblance à partir dudit spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) et du spectre transmis de l'échantillon (Sech), chaque spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) correspondant au spectre d'énergie transmis à travers un empilement de cales formées chacune d'une épaisseur connue de matériau de calibrage ; - estimation des épaisseurs caractéristiques (L1,L2) associées à l'échantillon selon le critère de maximum de vraisemblance.
A method is provided for characterizing a sample, by estimating a plurality of characteristic thicknesses, each being associated with a calibration material. The method includes acquiring an energy spectrum transmitted through the sample, located in an X and/or gamma spectral band; for each spectrum of a plurality of calibration spectra, calculating a likelihood from said calibration spectrum, and from the spectrum transmitted through the sample, each calibration spectrum corresponding to the energy spectrum transmitted through a stack of gauge blocks, each formed of a known thickness of a calibration material; and estimating the characteristic thicknesses associated with the sample according to the criterion of maximum likelihood.</description><language>fre</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20161216&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3037401A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20161216&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3037401A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BRAMBILLA ANDREA</creatorcontrib><creatorcontrib>POTOP ALEXANDRA</creatorcontrib><creatorcontrib>GORECKI ALEXIA</creatorcontrib><title>CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX</title><description>L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet échantillon (Sech), situé dans une bande spectrale X et/ou gamma, dit spectre transmis de l'échantillon ; - pour chaque spectre parmi une pluralité de spectres de calibrage (Sbase(Lk; Ll)), calcul d'une vraisemblance à partir dudit spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) et du spectre transmis de l'échantillon (Sech), chaque spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) correspondant au spectre d'énergie transmis à travers un empilement de cales formées chacune d'une épaisseur connue de matériau de calibrage ; - estimation des épaisseurs caractéristiques (L1,L2) associées à l'échantillon selon le critère de maximum de vraisemblance.
A method is provided for characterizing a sample, by estimating a plurality of characteristic thicknesses, each being associated with a calibration material. The method includes acquiring an energy spectrum transmitted through the sample, located in an X and/or gamma spectral band; for each spectrum of a plurality of calibration spectra, calculating a likelihood from said calibration spectrum, and from the spectrum transmitted through the sample, each calibration spectrum corresponding to the energy spectrum transmitted through a stack of gauge blocks, each formed of a known thickness of a calibration material; and estimating the characteristic thicknesses associated with the sample according to the criterion of maximum likelihood.</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHB3dgxydA5xDfIMdgzx9PdTcFEP9VNwdfZw9Avx9PEBCgQ4Bim4uDr7-wb4B3uClbj6KTg5BrsCRRV8HUFaHUMjeBhY0xJzilN5oTQ3g4Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvFuQsYGxuYmBoaOhMRFKAHdHLAI</recordid><startdate>20161216</startdate><enddate>20161216</enddate><creator>BRAMBILLA ANDREA</creator><creator>POTOP ALEXANDRA</creator><creator>GORECKI ALEXIA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20161216</creationdate><title>CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX</title><author>BRAMBILLA ANDREA ; POTOP ALEXANDRA ; GORECKI ALEXIA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR3037401A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>fre</language><creationdate>2016</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BRAMBILLA ANDREA</creatorcontrib><creatorcontrib>POTOP ALEXANDRA</creatorcontrib><creatorcontrib>GORECKI ALEXIA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BRAMBILLA ANDREA</au><au>POTOP ALEXANDRA</au><au>GORECKI ALEXIA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX</title><date>2016-12-16</date><risdate>2016</risdate><abstract>L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet échantillon (Sech), situé dans une bande spectrale X et/ou gamma, dit spectre transmis de l'échantillon ; - pour chaque spectre parmi une pluralité de spectres de calibrage (Sbase(Lk; Ll)), calcul d'une vraisemblance à partir dudit spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) et du spectre transmis de l'échantillon (Sech), chaque spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) correspondant au spectre d'énergie transmis à travers un empilement de cales formées chacune d'une épaisseur connue de matériau de calibrage ; - estimation des épaisseurs caractéristiques (L1,L2) associées à l'échantillon selon le critère de maximum de vraisemblance.
A method is provided for characterizing a sample, by estimating a plurality of characteristic thicknesses, each being associated with a calibration material. The method includes acquiring an energy spectrum transmitted through the sample, located in an X and/or gamma spectral band; for each spectrum of a plurality of calibration spectra, calculating a likelihood from said calibration spectrum, and from the spectrum transmitted through the sample, each calibration spectrum corresponding to the energy spectrum transmitted through a stack of gauge blocks, each formed of a known thickness of a calibration material; and estimating the characteristic thicknesses associated with the sample according to the criterion of maximum likelihood.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | fre |
| recordid | cdi_epo_espacenet_FR3037401A1 |
| source | esp@cenet |
| subjects | CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING |
| title | CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-06T09%3A23%3A29IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=BRAMBILLA%20ANDREA&rft.date=2016-12-16&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EFR3037401A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |