CARACTERISATION D'UN ECHANTILLON PAR DECOMPOSITION EN BASE DE MATERIAUX

L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un échantillon, par estimation d'une pluralité d'épaisseurs caractéristiques, chacune associée à un matériau de calibrage, comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'un spectre d'énergie transmis à travers cet échantillon (Sech), situé dans une bande spectrale X et/ou gamma, dit spectre transmis de l'échantillon ; - pour chaque spectre parmi une pluralité de spectres de calibrage (Sbase(Lk; Ll)), calcul d'une vraisemblance à partir dudit spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) et du spectre transmis de l'échantillon (Sech), chaque spectre de calibrage (Sbase(Lk; Ll)) correspondant au spectre d'énergie transmis à travers un empilement de cales formées chacune d'une épaisseur connue de matériau de calibrage ; - estimation des épaisseurs caractéristiques (L1,L2) associées à l'échantillon selon le critère de maximum de vraisemblance. A method is provided for characterizing a sample, by estimating a plurality of characteristic thicknesses, each being associated with a calibration material. The method includes acquiring an energy spectrum transmitted through the sample, located in an X and/or gamma spectral band; for each spectrum of a plurality of calibration spectra, calculating a likelihood from said calibration spectrum, and from the spectrum transmitted through the sample, each calibration spectrum corresponding to the energy spectrum transmitted through a stack of gauge blocks, each formed of a known thickness of a calibration material; and estimating the characteristic thicknesses associated with the sample according to the criterion of maximum likelihood.