PROCEDE POUR CARACTERISER UN OBJET D'INTERET EN INTERACTION AVEC UNE INTERFACE DE MESURE, ET DISPOSITIF METTANT EN OEUVRE LE PROCEDE
La présente invention concerne un procédé pour caractériser un objet d'intérêt (1) en interaction avec une interface de mesure (2), comprenant des étapes (i) d'acquisition d'une distribution spatiale de mesures représentative de la distance (3) entre l'objet d'intérêt (1) et...
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Format: | Patent |
Sprache: | fre |
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Zusammenfassung: | La présente invention concerne un procédé pour caractériser un objet d'intérêt (1) en interaction avec une interface de mesure (2), comprenant des étapes (i) d'acquisition d'une distribution spatiale de mesures représentative de la distance (3) entre l'objet d'intérêt (1) et une pluralité de points de mesure de l'interface de mesure (2), (ii) de détermination d'une position estimée de l'objet d'intérêt (1) relativement à l'interface de mesure (2), et (iii) de détermination d'au moins une caractéristique supplémentaire de l'objet d'intérêt parmi une caractéristique dimensionnelle et une caractéristique de positionnement angulaire (8, 23) relativement à l'interface de mesure (2). L'invention concerne aussi un dispositif d'interface et un appareil implémentant le procédé.
The present invention relates to a method for characterizing an object of interest (1) by interacting with a measuring interface (2), comprising steps for (i) acquiring a spatial distribution of measurements representative of the distance (3) between the object of interest (1) and a plurality of measuring points of the measuring interface (2), (ii) determining an estimated position of the object of interest (1) relative to the measuring interface (2), and (iii) determining at least one additional characteristic of the object of interest from among a dimensional characteristic and an angular positioning characteristic (8, 23) relative to the measuring interface (2). The invention also relates to an interface device and an apparatus implementing the method. |
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