DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE MESURES DE DIFFRACTION DE RAYONS X SUR DES PIECES AYANT SUBI UN TRAITEMENT INDUISANT DES CONTRAINTES, ET APPAREIL D'ANALYSE ASSOCIE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BAUMHAUER EMMANUEL, DESPRINGRE NICOLAS, BENOIST JULIEN
Format:	Patent
Sprache:	fre
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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