PROCEDE DE CONCEPTION OPTIMISEE DE CIRCUITS ELECTRONIQUES INTEGRES

L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un système destiné à être inclus dans un circuit électronique intégré, le procédé comprenant les étapes de : -récupération de modèles de simulation numérique (50B, 50C) respectifs de premier et deuxième blocs ; -récupération d'un modèle de simulation numérique du système (50A) incluant lesdits premier et deuxième blocs ; -appliquer au modèle de simulation numérique du système (50A) différentes valeurs de métriques de performance concurrentes des blocs et appartenant à des domaines de validité, de façon à générer des valeurs des métriques de performance de sortie du système ; -génération d'une fonction représentative d'une frontière de Pareto et définissant une deuxième desdites métriques de performance de sortie du système en fonction d'une première desdites métriques de sortie du système ; -génération d'une fonction définissant des valeurs des métriques de performance des blocs en fonction de la première métrique de sortie du système.