Optical fiber thickness measurement method for use in quality control by placing the fiber so that it blocks an electron beam incident on a CRT and using beam deviation to measure thickness

Method for rapid measurement of the thickness of an optical fiber (5), in which the fiber is scanned using a light beam, so that the thickness of the fiber is determined from the area hidden by the fiber as it is scanned over. To scan over the area a point light source is moved over the light fiber on a scanning trajectory (S) that covers the fiber or other object. An Independent claim is made for a device for determining the thickness of an optical fiber L'invention concerne un procédé de mesure rapide de l'épaisseur d'un objet (5) consistant à balayer une région contenant ledit objet à l'aide d'un faisceau lumineux, à détecter, pendant le balayage, lorsque le faisceau lumineux traverse la région et lorsqu'il est occulté par l'objet et à en déduire l'épaisseur de l'objet.Ce procédé est caractérisé en ce que l'on réalise le balayage de ladite région en déplaçant une source lumineuse ponctuelle au voisinage de l'objet à mesurer, sur une trajectoire de balayage (S) couvrant sensiblement l'épaisseur dudit objet.L'invention concerne également un appareil pour mettre en oeuvre ce procédé.