SONDE DE TENSION A PLUSIEURS CONDUCTEURS
Une tête de sonde comporte des entrées de puces de circuit intégré, un plan de masse sur une carte de circuit, et des centaines de conducteurs de sonde comprenant des pistes sur la carte de circuit, connectées entre les entrées et un circuit en cours d'essai. Chaque piste a une largeur de 3 mil...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Une tête de sonde comporte des entrées de puces de circuit intégré, un plan de masse sur une carte de circuit, et des centaines de conducteurs de sonde comprenant des pistes sur la carte de circuit, connectées entre les entrées et un circuit en cours d'essai. Chaque piste a une largeur de 3 mils environ. Il existe un matériau diélectrique en polytétrafluoroéthylène DICLAD d'une constante diélectrique de 2,2 environ, entre la masse et les pistes. Chaque autre piste est connectée électriquement au plan de masse. Les résistances d'entrée sont enterrées dans la carte de circuit, et il existe un réseau diviseur d'entrée sur la puce. Le client définit les broches reliées à la masse d'un circuit destiné à être vérifié. Les conducteurs de sonde correspondant aux broches reliées à la masse sont connectés au plan de masse, maximisant les connexions entre les masses de la sonde et le circuit en cours d'essai, et minimisant les potentiels de masse inégaux.
A probe head includes integrated circuit chip inputs, a ground plane on a circuit board, and hundreds of probe leads comprising traces on the circuit board connected between the inputs and a circuit under test. Each trace is about 3 mils wide. There is a DICLAD polytetrafluoroethylene dielectric material of dielectric constant of about 2.2 between the ground and traces. Every other trace is electrically connected to the ground plane. Input resistors are buried in the circuit board and there is an on-chip input divider network. The customer defines the grounded pins of a circuit to be tested. Probe leads corresponding to the grounded pins are connected to the ground plane, maximizing the connections between the grounds of the probe and the circuit under test and minimizing unequal ground potentials. |
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