Circuits Driver pour testeur de circuits intégrés

Circuit driver pouvant également faire fonction de circuits de terminaison et de blocage dans un testeur de CI. Lorsqu'elle doit attaquer un port d'un DEE (dispositif en essai) entre deux niveaux de tension prédéfinis, la borne E/S (entrée/sortie) du driver est commutée entre deux niveaux de tension prédéfinis à une impédance de sortie adaptée à la ligne de transmission située entre le circuit driver et le DEE. Lorsque le port du DEE délivre un signal de sortie, le circuit driver peut être programmé pour assurer deux types de terminaison. Si le port du DEE est spécifié pour attaquer la charge, la ligne de transmission située entre le circuit driver et le DEE est terminée en commutant la borne E/S du driver à un niveau de tension prédéfini à une impédance Zo . Si le port du DEE n'est pas spécifié pour attaquer une telle charge de terminaison, le circuit driver fonctionne comme un circuit à blocage en Z. Driver circuits are provided which also serve as termination and clamp in an IC tester. When it is to drive a port of a device under test (DUT) between two predetermined voltage levels, the driver's I/O terminal is switched between two predetermined voltage levels with an output impedance that matches the transmission line between the driver circuit and the DUT. When the DUT's port is supplying an output signal, the driver circuit can be programmed to provide one of two types of termination. If the DUT's port is specified as capable of driving the load, the transmission line between the driver circuit and the DUT is terminated by switching the driver circuit's I/O terminal to a predetermined voltage level with an impedance of Z0. If the DUT's port is not specified as being capable of driving such a termination load, the driver circuit functions like a Z-clamp circuit.